中华人民共和国国家标准

产品几何量技术规范(GPS)                                  GB/T 16857.1-200X

坐标测量机的验收检测和复检检测   eqv ISO 10360-1:2000

第 1 部分：词汇

Geometrical Product Specification (GPS)-Acceptance and Re-verification tests for Coordinate Measuring Machines

-Part I：Vocabulary

 

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9 有关坐标测量机误差或示值误差的术语

9.1 坐标测量机尺寸测量的示值误差 (E) error of indication of a CMM for size measurement

用坐标测量机(2.1)从相反两方向接近探测点，测定尺寸实物标准器(8.2)的两标称平行平面间的法向(与一个面正交的)两相对点距离的示值误差。

注：对实物标准的测量是通过两相对表面上(与一个面正交的)两相对点进行。当从相反两方向接近该两点时，见图11a)和11b)。

  

图 11 测量方向

 

9.2 坐标测量机尺寸测量的最大允许示值误差 maximum permissible error of indication of a CMM for size measurement

由坐标测量机(2.1)的规范、规程等所允许的坐标测量机尺寸测量的示值误差E(9.1)的极限值。

注1；坐标测量机尺寸测量的最大允许示值误差(MPEE)以下列三个表达式的任一式表示：

a)MPEE = ±(A+L／K)和 MPEE = ±B 的较小值   (见图 12)

b)MPEE = ±(A+L/K)   (见图 13)

c)MPEE = ±B   (见图 14)

 

式中：

A 正常数，µm，由坐标测量机制造商提供；

K 无量纲常数，由坐标测量机制造商提供；

L 被测长度，mm；

B 最大允许误差 MPEE ，µm；由坐标测量机制造商提供。

注2：上列表达式适用于将尺寸实物标准器(8.2)放在坐标测量机测量空间(2.3)的任何位置和方向的测量。

 

图 12 坐标测量机尺寸测量的最大允许示值误差 MPEE (见9.2)

 

 

图 13 坐标测量机尺寸测量的最大允许示值误差 MPEE (见 9.2，注1.b)

 

 

图 14 坐标测量机尺寸测量的最大允许示值误差 MPEE(见 9.2，注 1.c)

 

9.3 探测误差 (P) probing error

用坐标测量机测定球形尺寸实物标准器(8.2)的半径范围(2.21)在检测球上用单个探针(4.1)以离散点探测(2.8)方式进行测量。见图15。

注： P 是一个正值。

 

注： P<=MPEP

图 15 探测误差 P

 

9.4 最大允许探测误差 (MPEP)maximum permissible probing error

由坐标测量机(2.1)的规范、规程等所允许的探测误差P(9.3)的极限值，见图15。

注1：坐标测量机的最大允许探测误差 MPEP 表达为：

MPEP＝A

式中： A 是正常数，µm。

注2：MPEP 值适用于球形尺寸实物标准器(8.2)在坐标测量机测量空间(2.3)内的任一位置和任一探测方向。

9.5 径向四轴误差 (FR) radial four-axis error

用转台(5.1)的轴线作为第四轴的坐标测量机在工件坐标系统(2.4)内测得的检测球(8.4)中心位置的示值误差的径向范围。

9.6 切向四轴误差 (FR) tangential four-axis error

用转台(5.1)的轴线作为第四轴的坐标测量机在工件坐标系统(2.4)内测得的检测球(8.4)中心位置的示值误差的切向范围。

9.7 轴向四轴误差 (FA) axial four-axis error

用转台(5.1)的轴线作为第四轴的坐标测量机在工件坐标系统(2.4)内测得的检测球(8.4)中心位置的示值误差的轴向范围。

9.8 最大允许径向四轴误差 (MPEFR) maximum permissible radial four-axis error

由转台(5.1)的轴线作为第四轴的坐标测量机的规范、规程等所允许的径向四轴误差 FR(9.5)的极限值。

9.9 最大允许切向四轴误差 (MPEFT) maximum permissible tangential four-axis error

由转台(51)的轴线作为第四轴的坐标测量机的规范、规程等所允许的切向四轴误差 FT(9.6)的极限值。

9.10 最大允许轴向四轴误差 (MPEFA) maximum permissible axial four -axis error

由转台(5.1)的轴线作为第四轴的坐标测量机的规范、规程等所允许的轴向四轴误差 FA(9.7)的极限值。

9.11 扫描探测误差 (Tij) scanning probing error

用坐标测量机(2.1)测定检测球(8.4)的半径变化范围(2.21)。在检测球(8.4)上用单个探针 (4.1)  以扫描(2.9)方式进行测量。

注：根据高点密度(7.8)或低点密度(7.9)及预定路径扫描(7.5)或非预定路径扫描(7.6)的不 同组合，可有以下四种扫描探测误差：

 

点密度	预定路径 (j＝P)	非预定路径 (j＝N)
高(i＝H)	THP	THN
低(i＝L)	TLP	TLN

 

9.12 最大允许扫描探测误差 (MPETij) maximum permissible scanning probing error

由坐标测量机(2.1)的规范、规程等所允许的扫描探测误差 Tij(9.11)的极限值。

注1：MPETij；值是一个正常数，适用于探测球(8.4)处于坐标测量机测量空间区(2.3)内任何位置和任意探测方向。

注2：对四种组合的每一种，可规定 MPETij 的不同值。

9.13 扫描检测时间 (T) time for scanning test

由程序规定的从扫描顺序(7.7)第 1 步开始到扫描顺序结束所经过的时间。

9.14 最大允许扫描检测时间 (MPT t) maximum permissible time for scanning test

由坐标测量机(2.1)的规范、规程等所允许的扫描检测时间τ(9.13)的极限值。

9.15 固定多探针探测系统形状误差 (MF) fixed multiple-stylus probing system form error

在坐标测量机(2.1)上用固定多探针(3.8)以离散点探测(2.8)方式在检测球(8.4)上进行测量，用最小二乘法近似处理各点，测得的球形尺寸实物标准器(8.2)半径变化的范围(2.21)。

9.16 固定多探针探测系统尺寸误差 (MS)fixed multiple stylus probing system size error

在坐标测量机(2.1)上用固定多探针(3.8)以离散点探测(2.8)方式在检测球(8.4)上进行测量，用最小二乘法近似处理各点，测定球形尺寸实物标准器(8.2)直径的示值误差。

9.17 固定多探针探测系统位置误差 (ML)fixed multiple stylus probing system location error

在坐标测量机(2.1)上用固定多探针(3.8)以离散点探测(2.8)方式在检测球(8.4)上进行测量, 用最小二乘法近似处理各点，测定的球形尺寸实物标准器(8.2)中心坐标变化的范围(2.21)。

9.18 最大允许固定多探针探测系统形状误差 (MPEMF)maximum permissible fixed multiple-stylus probing system form error

由坐标测量机(2.1)的规范、规程等所允许的固定多探针探测系统形状误差MF(9.15)的极限值。

注： MPEMF 可由探针长度(4.5)和探针系统(4.4)规定。

9.19 最大允许固定多探针探测系统尺寸误差 (MPEMS)maximum permissible fixed multiple-stylus probing system size error

由坐标测量机(2.1)的规范、规程等所允许的固定多探针探测系统尺寸误差MS(9.16)的极限值。

注： MPEMS 可由探针长度(4.5)和探针系统(4.4)规定。

9.20 最大允许固定多探针探测系统位置误差 (MPEML)maximum permissible fixed multiple-stylus probing system position error

由坐标测量机(2.1)的规范、规程等所允许的固定多探针探测系统位置误差ML(9.17)的极限值。

注： MPEML 可由探针长度(4.5)和探针系统(4.4)规定。

9.21 万向探测系统形状误差 (AF) articulated probing system form error

在坐标测量机(2.1)上用万向探测系统(3.6)以离散点探测(2.8)方式在检测球(8.4)上进行测量，用最小二乘法近似处理各点，测定的球形尺寸实物标准器(8.2)半径变化的范围(2.21)。

9.22 万向探测系统尺寸误差 (AS) articulated probing system size error

在坐标测量机(2.1)上用万向探测系统(3.6)以离散点探测(2.8)方式在检测球(8.4)上进行测量，用最小二乘法近似处理各点，测定的球形尺寸实物标准器(8.2)直径变化的范围(2.21)。

9.23 万向探测系统位置误差 (AL) articulated probing system location error

在坐标测量机(2.1)上用万向探测系统(3.6)以离散点探测(2.8)方式在检测球(8.4)上进行测量，用最小二乘法近似处理各点，测定的球形尺寸实物标准器(8.2)中心坐标变化的范围(2.21)。

9.24 最大允许万向探测系统形状误差 (MPEAF)maximum permissible articulated probing system form error

由坐标测量机(2.1)的规范、规程等所允许的万向探测系统形状误差 AF(9.21)的极限值。

注： MPEAF 可由测头加长杆和探针系统(4.4)规定。

9.25 最大允许万向探测系统尺寸误差 (MPEAs)maximum permissible articulated probing system size error

由坐标测量机(2.1)的规范、规程等所允许的万向探测系统尺寸误差AS(9.22)的极限值。

注： MPEAs 可由测头加长杆和探针系统(4.4)规定。

9.26 最大允许万向探测系统位置误差 (MPEAL)maximum permissible articulated probing system position error

由坐标测量机(2.1)的规范、规程等所允许的万向探测系统位置误差 AL(9.23)的极限值。

注： MPEAL 可由测头加长杆和探针系统(4.4)规定。