中华人民共和国国家标准

产品几何量技术规范(GPS)                                  GB/T 16857.1-200X

坐标测量机的验收检测和复检检测   eqv ISO 10360-1:2000

第 1 部分：词汇

Geometrical Product Specification (GPS)-Acceptance and Re-verification tests for Coordinate Measuring Machines

-Part I：Vocabulary 

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3. 有关探测系统的术语

3.1 测头 probe

探测(2.7)时能发送信号的装置。

3.2 接触式探测系统 contacting probing system

需与待测表面发生实体接触的探测系统(2.6)。

3.3 非接触式探测系统 non-contact probing system

不需与待测表面发生实体接触的探测系统(2.6)。

注：光学探测系统(3.4)就是非接触式探测系统。

3.4 光学探测系统  optical probing system

用光学系统探测(2.7)产生修正测量点(2.13)的一种非接触式探测系统。

3.5 多测头系统 multi-probe system

具有多个测头(3.1)的探测系统(2.6)，见图 5 和图 6。

3.6 万向探测系统 articulating probing system

通过手动或机动调节装置调整不同的空间角度位置的探测系统(2.6)，见图 2。

3.7 探测系统的标定 probing system qualification

建立为以后测量所必须的探测系统(2.6)参数的操作。

3.8 多探针 multiple styli ，multiple stylus

探测系统(2.6)装有带一个或若干个探针的多探针系统(4.4)，或带几个探针(4.1)的单探针系 统或探测系统是多测头系统(3.5)，或探测系统(2.6)能在多方位上定位的一个或几个探针，见 图 5 至图 9。

4. 有关探针系统的术语

4.1 探针  stylus

由探针针头(4.2)和探针杆组成的机械元件。

4.2 探针针头 stylus tip

执行与工件接触的机械元件。

注：探针针头可以是球、圆柱、圆盘、锥尖形等。

4.3 探针系统元件  stylus system components

能执行与工件作接触的机械元件，如探针加长杆和探针。

4.4 探针系统  stylus system

包括至少一个探针(4.1)的探针系统元件(4.3)的任一组合。

4.5 探针长度  stylus length

探针针头的中心到探针杆轴肩的距离，见图 10(球形探针针尖)。

4.6 探针针头偏置  stylus tip offset

在机器坐标系统(2.5)内，相对于已建立的基准，探针针头(4.2)中心的坐标。

注：可由经标定的首个探针(4.1)的中心建立基准。

 

 

1 探测轴             2 测头交换系统

3 测头                4 探针

5 探针加长杆

 

图 5 带多探针和多测头系统(两测头和两单探针)的探测系统

 

 

1 探测轴          2 测头交换系统

3 测头             4 探针

 

图 6 带多探针，多测头和测头交换系统(两测头，两单探针和测头交换系统)的探测系统

 

1 探测轴         2 测头

3 探针            4 探针加长杆

 

图 7 带多探针(两单探针)的探测系统

  

 

1 探测轴

2 测头

3 星形探针

 

图 8 带多探针(一个星形探针)的探测系统

 

 

1 探测轴

2 测头

3 探针交换系统

4 探针

 

图 9 带多探针(两单探针和一探针交换系统)的探测系统

 

a 探针长度

 

图 10 探针长度